凌光红外完成数千万元A轮融资

失效分析（FA）是芯片工艺中的重要一环，用于定位和分析半导体芯片中的失效问题，对很多关键行业具有重要意义。在电子元器件的生产、 测试和使用阶段，还可以通过失效分析及时发现失效和查找失效原因并提高生产效率。

凌光红外所研发的Luxet Thermo系列锁相红外显微镜可以直接快速地透过IC 正面及背面来找出缺陷的位置。更可在 IC 未开盖的状态下先定位出失效点为 Die 或封装方面问题。该系列广泛应用于功率器件、封装测试、第三代半导体、电路板等客户。Luxet EMMI系列的微光显微镜主要使用深度制冷近红外显微系统检测IC内部所放出的光子。和Luxet Thermo系列相比，其显微倍数更高，主要适用于漏电场景。

凌光红外首席科学家侯达之表示:“非常感谢本轮及前轮投资人的信任。因为亲身经历了科研领域‘卡脖子’的困境，我选择了创业研发道路。这一决定虽有偶然，但更多是时代赋予中国科研人的使命。我坚信，通过我们这一代的努力，能够不断实现高端测试设备的国产化，让中国人可以更自由地参与国际化的科技竞争，不再受限，获得更大的发展空间。”